科邁斯科技股份有限公司

  • X射线荧光镀层厚度测量仪

    FT160为微型电子器件的微焦斑分析,这款不会过时的仪器,专为微焦斑和超薄镀层分析而设计,可应对日益小型化的电子行业及PCB板镀层的挑战
    型号: FT160 所在地: 参考价: 面议 更新时间:2025/2/11 9:51:23 对比
  • X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230

    FT230的每一个部分都是为了准确测试,并大幅减少分析时间而设计的
    型号: FT230 所在地: 参考价: 面议 更新时间:2025/2/11 9:50:00 对比
  • 椭圆偏振光谱仪

    特点规格量测厚度,反射率,吸收率,表面结构量测波长632
    型号: Semilab S... 所在地: 参考价: 面议 更新时间:2025/2/11 9:43:23 对比
  • X射线荧光镀层厚度测量仪

    基于X荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液...
    型号: X-Strata9... 所在地: 参考价: 面议 更新时间:2022/8/22 15:12:12 对比

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